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タイトル: Investigation of Ferroelectricity in Sputtered Y-doped HfO2 Thin Films
著者: Karim, Mohammad Mesbahul
著者(別表記): かりむ, もはまど めすばうる
キーワード: Thin films
ferroelectrics
HfO2
ferroelectric thin film transistor
発行日: Jun-2018
記述: Supervisor: 徳光 永輔
先端科学技術研究科
修士(マテリアルサイエンス)
タイトル(英語): Investigation of Ferroelectricity in Sputtered Y-doped HfO2 Thin Films
著者(英語): Karim, Mohammad Mesbahul
言語: eng
URI: http://hdl.handle.net/10119/15349
出現コレクション:M-MS. 2018年度(H30) (Jun.2018 - Mar.2019)

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