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M-MS. 2018年度(H30) >
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http://hdl.handle.net/10119/15970
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| タイトル: | フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析 |
| 著者: | 武井, 美久 |
| 著者（別表記）: | たけい, みく |
| キーワード: | 有機EL素子
OLED
フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析
FT-ICR IMS
劣化解析
Detection of degradation products |
| 発行日: | Mar-2019 |
| 記述: | Supervisor: 村田 英幸
先端科学技術研究科
修士(マテリアルサイエンス) |
| タイトル（英語）: | Detection of degradation products of OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Imaging Mass Spectrometry |
| 著者（英語）: | Takei, Miku |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/15970 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2018年度(H30) (Jun.2018 - Mar.2019)
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