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M-MS. 2018年度(H30) >
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http://hdl.handle.net/10119/15970
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タイトル: | フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析 |
著者: | 武井, 美久 |
著者(別表記): | たけい, みく |
キーワード: | 有機EL素子 OLED フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析 FT-ICR IMS 劣化解析 Detection of degradation products |
発行日: | Mar-2019 |
記述: | Supervisor: 村田 英幸 先端科学技術研究科 修士(マテリアルサイエンス) |
タイトル(英語): | Detection of degradation products of OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Imaging Mass Spectrometry |
著者(英語): | Takei, Miku |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/15970 |
出現コレクション: | M-MS. 2018年度(H30) (Jun.2018 - Mar.2019)
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