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Doctor of Philosophy（Materials Science） >
R04) (Jun.2022 - Mar.2023 >
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http://hdl.handle.net/10119/18147
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| Title: | 二軸傾斜機能を備えたTEMホルダーの開発と薄膜化されたシリコンのナノインデンテーション観察 |
| Authors: | 陳, 桐民 |
| Authors(alternative): | ちん, とうみん |
| Keywords: | in situ TEM
Si- thin film
Nanoindentation
high-pressure phases
defects |
| Issue Date: | Sep-2022 |
| Description: | Supervisor:大島 義文
先端科学技術研究科
博士 |
| Authors(English): | CHEN, TONGMIN |
| Language: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/18147 |
| Academic Degrees and number: | 甲第1348号 |
| Degree-granting date: | 2022-09-22 |
| Degree name: | 博士(マテリアルサイエンス） |
| Degree-granting institutions: | 北陸先端科学技術大学院大学 |
| Appears in Collections: | D-MS. 2022年度(R04) (Jun.2022 - Mar.2023)
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Description |
Size | Format |
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| abstract.pdf | 要旨 | 123Kb | Adobe PDF | View/Open | | paper.pdf | 本文 | 8393Kb | Adobe PDF | View/Open | | summary.pdf | 内容の要旨及び論文審査の結果の要旨 | 250Kb | Adobe PDF | View/Open |
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