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Title: 二軸傾斜機能を備えたTEMホルダーの開発と薄膜化されたシリコンのナノインデンテーション観察
Authors: 陳, 桐民
Authors(alternative): ちん, とうみん
Keywords: in situ TEM
Si- thin film
Nanoindentation
high-pressure phases
defects
Issue Date: Sep-2022
Description: Supervisor:大島 義文
先端科学技術研究科
博士
Authors(English): CHEN, TONGMIN
Language: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/18147
Academic Degrees and number: 甲第1348号
Degree-granting date: 2022-09-22
Degree name: 博士(マテリアルサイエンス)
Degree-granting institutions: 北陸先端科学技術大学院大学
Appears in Collections:D-MS. 2022年度(R04) (Jun.2022 - Mar.2023)

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