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D-IS. 2022年度(R04) >
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http://hdl.handle.net/10119/18190
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| タイトル: | 機械学習によるOLED製造工程での不良検出に関する研究 |
| 著者: | 富田, 暁 |
| 著者（別表記）: | とみた, さとる |
| キーワード: | Display
Machine Learning
Mura
Detection
Subspace Method
Contrast Enhancement |
| 発行日: | Dec-2022 |
| 記述: | Supervisor: 小谷 一孔
先端科学技術研究科
博士 |
| タイトル（英語）: | 機械学習によるOLED製造工程での不良検出に関する研究 |
| 著者（英語）: | Tomita, Satoru |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/18190 |
| 学位授与番号: | 甲第1358号 |
| 学位授与年月日: | 2022-12-23 |
| 学位名: | 博士(情報科学) |
| 学位授与機関: | 北陸先端科学技術大学院大学 |
| 出現コレクション: | D-IS. 2022年度(R04) (Jun.2022 - Mar.2023)
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このアイテムのファイル:
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記述 |
サイズ | 形式 |
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| abstract.pdf | 要旨 | 166Kb | Adobe PDF | 見る/開く | | paper.pdf | 本文 | 3459Kb | Adobe PDF | 見る/開く | | summary.pdf | 内容の要旨及び論文審査の結果の要旨 | 204Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
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