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R04) (Jun.2022 - Mar.2023 >
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http://hdl.handle.net/10119/18190
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| Title: | 機械学習によるOLED製造工程での不良検出に関する研究 |
| Authors: | 富田, 暁 |
| Authors(alternative): | とみた, さとる |
| Keywords: | Display
Machine Learning
Mura
Detection
Subspace Method
Contrast Enhancement |
| Issue Date: | Dec-2022 |
| Description: | Supervisor:小谷 一孔
先端科学技術研究科
博士 |
| Authors(English): | TOMITA, SATORU |
| Language: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/18190 |
| Academic Degrees and number: | 甲第1358号 |
| Degree-granting date: | 2022-12-23 |
| Degree name: | 博士(情報科学) |
| Degree-granting institutions: | 北陸先端科学技術大学院大学 |
| Appears in Collections: | D-IS. 2022年度(R04) (Jun.2022 - Mar.2023)
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Description |
Size | Format |
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| abstract.pdf | 要旨 | 166Kb | Adobe PDF | View/Open | | paper.pdf | 本文 | 3459Kb | Adobe PDF | View/Open | | summary.pdf | 内容の要旨及び論文審査の結果の要旨 | 204Kb | Adobe PDF | View/Open |
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