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http://hdl.handle.net/10119/18431
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タイトル: | 多端子ホール測定および高周波測定によるオーミック金属下半導体の特性評価法とその応用 |
著者: | 瓜生, 和也 |
著者(別表記): | うりゅう, かずや |
キーワード: | Ohmic contact multi-probe Hall measurement transmission line model n-GaN Al- GaN/GaN heterostructure |
発行日: | Mar-2023 |
記述: | Supervisor: 鈴木 寿一 先端科学技術研究科 博士 |
タイトル(英語): | 多端子ホール測定および高周波測定によるオーミック金属下半導体の特性評価法とその応用 |
著者(英語): | Uryu, Kazuya |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/18431 |
学位授与番号: | 甲第1390号 |
学位授与年月日: | 2023-03-24 |
学位名: | 博士(マテリアルサイエンス) |
学位授与機関: | 北陸先端科学技術大学院大学 |
出現コレクション: | D-MS. 2022年度(R04) (Jun.2022 - Mar.2023)
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このアイテムのファイル:
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記述 |
サイズ | 形式 |
abstract.pdf | 要旨 | 11Kb | Adobe PDF | 見る/開く | paper.pdf | 本文 | 22192Kb | Adobe PDF | 見る/開く | summary.pdf | 内容の要旨及び論文審査の結果の要旨 | 213Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
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