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M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 1998年度(H10) >
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http://hdl.handle.net/10119/2587
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| タイトル: | Ｘ線二次元回折画像の精密データ処理と高分子構造解析への応用 |
| 著者: | 田中, 高太郎 |
| 著者（別表記）: | たなか, こうたろう |
| キーワード: | Ｘ線回折,結晶化度,配向度,イメージングプレート
X-ray diffraction, Crystallinity, Orientation, Ima |
| 発行日: | Mar-1999 |
| 記述: |
Supervisor:佐々木 伸太郎
材料科学研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | Data Proccessing of Tow-dimensional X-ray Scattering Patterns and Its Application to Structure Analysis of Polymers |
| 著者（英語）: | Tanaka, Kotaro |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/2587 |
| 出現コレクション: | M-MS. 1998年度(H10) (Jun.1998 - Mar.1999)
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記述 |
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