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M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 1998年度(H10) >
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http://hdl.handle.net/10119/2590
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| タイトル: | TOF質量分析装置のイオン光学に基づく性能の評価 |
| 著者: | 金刺, 進之介 |
| 著者（別表記）: | かねさし, しんのすけ |
| キーワード: | イオン光学 TOF質量分析 質量分解能 検出感度
Ion Optics,Time-of flight mass spectrometry,mass r |
| 発行日: | Mar-1999 |
| 記述: |
Supervisor:櫻井 達 助教授
材料科学研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | The estimation of the Ion Optical Characteristics ofTime-of-flight mass spectrometers |
| 著者（英語）: | Kanesashi, Shinnosuke |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/2590 |
| 出現コレクション: | M-MS. 1998年度(H10) (Jun.1998 - Mar.1999)
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記述 |
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