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タイトル: 原子状水素処理によるCu2Oの導電率制御
著者: 田淵, 慎一
著者(別表記): たぶち, のりかず
キーワード: Cu2O,原子状水素処理,Cat-CVD,キャリア密度
Cu2O,Atomic Hydrogen Exposure,Cat-CVD,Carrier Conc
発行日: Mar-2001
記述: 
Supervisor:松村 英樹
材料科学研究科
修士
タイトル(英語): Control of Carrier Concentration in Cuprous Oxide Thin Film by Atomic Hydrogen Exposure
著者(英語): Tabuchi, Norikazu
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/2769
出現コレクション:M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)

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