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M-MS. 2000年度(H12) >
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http://hdl.handle.net/10119/2769
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タイトル: | 原子状水素処理によるCu2Oの導電率制御 |
著者: | 田淵, 慎一 |
著者(別表記): | たぶち, のりかず |
キーワード: | Cu2O,原子状水素処理,Cat-CVD,キャリア密度 Cu2O,Atomic Hydrogen Exposure,Cat-CVD,Carrier Conc |
発行日: | Mar-2001 |
記述: | Supervisor:松村 英樹 材料科学研究科 修士 |
タイトル(英語): | Control of Carrier Concentration in Cuprous Oxide Thin Film by Atomic Hydrogen Exposure |
著者(英語): | Tabuchi, Norikazu |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/2769 |
出現コレクション: | M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)
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