JAIST Repository >
i. 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) >
i20. 学位論文 >
M-MS. 修士(マテリアルサイエンス)・修士(材料科学) >
M-MS. 2000年度(H12) >
このアイテムの引用には次の識別子を使用してください:
http://hdl.handle.net/10119/2770
|
タイトル: | Kelvin法による電荷移動型薄膜の評価 |
著者: | 平林, 修 |
著者(別表記): | ひらばやし, おさむ |
キーワード: | ケルビンプローブ、電荷移動錯体、中性イオン性相転移 Kelvin Probe,Charge transfer complex,N-I phase tra |
発行日: | Mar-2001 |
記述: | Supervisor:三谷 忠興 材料科学研究科 修士 |
タイトル(英語): | Charge transfer type thin film studied by Kelvin Probe |
著者(英語): | Hirabayasi, Osamu |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/2770 |
出現コレクション: | M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)
|
このアイテムのファイル:
ファイル |
記述 |
サイズ | 形式 |
1399abstract.pdf | | 275Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
|
当システムに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。
|