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M-MS. 2000年度(H12) >
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http://hdl.handle.net/10119/2770
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| タイトル: | Kelvin法による電荷移動型薄膜の評価 |
| 著者: | 平林, 修 |
| 著者（別表記）: | ひらばやし, おさむ |
| キーワード: | ケルビンプローブ、電荷移動錯体、中性イオン性相転移
Kelvin Probe,Charge transfer complex,N-I phase tra |
| 発行日: | Mar-2001 |
| 記述: |
Supervisor:三谷 忠興
材料科学研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | Charge transfer type thin film studied by Kelvin Probe |
| 著者（英語）: | Hirabayasi, Osamu |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/2770 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)
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記述 |
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| 1399abstract.pdf | | 275Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
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