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タイトル: Kelvin法による電荷移動型薄膜の評価
著者: 平林, 修
著者(別表記): ひらばやし, おさむ
キーワード: ケルビンプローブ、電荷移動錯体、中性イオン性相転移
Kelvin Probe,Charge transfer complex,N-I phase tra
発行日: Mar-2001
記述: 
Supervisor:三谷 忠興
材料科学研究科
修士
タイトル(英語): Charge transfer type thin film studied by Kelvin Probe
著者(英語): Hirabayasi, Osamu
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/2770
出現コレクション:M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)

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