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M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 2000年度(H12) >
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http://hdl.handle.net/10119/2784
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| タイトル: | α-シクロデキストリンン-高分子包接化合物のX線構造解析 |
| 著者: | 菱山, 知幸 |
| 著者（別表記）: | ひしやま, ともゆき |
| キーワード: | ポリロタキサン, X線解析, Linked-atom Rietveld 法
Poly(rotxane), X-ray Structure Analysis, Linked-at |
| 発行日: | Mar-2001 |
| 記述: |
Supervisor:佐々木 伸太郎
材料科学研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | X-ray Structure Analysis of α-cyclodextrin-polymerInclusion Compound |
| 著者（英語）: | Hishiyama, Tomoyuki |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/2784 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)
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記述 |
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