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タイトル: α-シクロデキストリンン-高分子包接化合物のX線構造解析
著者: 菱山, 知幸
著者(別表記): ひしやま, ともゆき
キーワード: ポリロタキサン, X線解析, Linked-atom Rietveld 法
Poly(rotxane), X-ray Structure Analysis, Linked-at
発行日: Mar-2001
記述: 
Supervisor:佐々木 伸太郎
材料科学研究科
修士
タイトル(英語): X-ray Structure Analysis of α-cyclodextrin-polymerInclusion Compound
著者(英語): Hishiyama, Tomoyuki
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/2784
出現コレクション:M-MS. 2000年度(H12) (Jun.2000 - Mar.2001)

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