| 
JAIST Repository >
i. 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) >
 i20. 学位論文 >
 M-MS. 修士(マテリアルサイエンス)・修士(材料科学) >
 M-MS. 2004年度(H16) >
 
        
        
        
            | このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/10119/3218 |  
 
| タイトル: | 走査型プローブ顕微鏡の開発と表面相互作用分光法への応用 |  | 著者: | 大久保, 芳彦 |  | 著者(別表記): | おおくぼ, よしひこ |  | キーワード: | 走査型トンネル顕微鏡、電圧印加非接触原子間力分光法 Scannning Tunneling Microscope, Noncontact Atomic
 |  | 発行日: | Mar-2005 |  | 記述: | Supervisor:富取 正彦
 材料科学研究科
 修士
 |  | タイトル(英語): | The development of the scanning probe microscope and the application to the surface interaction spectroscopy |  | 著者(英語): | Ohkubo, yoshihiko |  | URI: | http://hdl.handle.net/10119/3218 |  | 出現コレクション: | M-MS. 2004年度(H16) (Jun.2004 - Mar.2005) 
 |  
 | このアイテムのファイル: このアイテムに関連するファイルはありません。 | 
 
    
     当システムに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。   |