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M-MS. 2005年度(H17) >
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http://hdl.handle.net/10119/3228
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| タイトル: | X線反射率測定によるポリヘキシルチオフェン超薄膜の構造評価 |
| 著者: | 黒澤, 剛志 |
| 著者（別表記）: | くろさわ, つよし |
| キーワード: | ポリヘキシルチオフェン，超薄膜, X線反射率
polyhexylthiophene, ultra-thin film, X-ray reflect |
| 発行日: | Mar-2006 |
| 記述: |
Supervisor:佐々木 伸太郎教授
材料科学研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | Structural evaluation of polyhexylthiophene ultra-thin films by X-ray reflectivity measurements |
| 著者（英語）: | Kurosawa, Tsuyoshi |
| 言語: | eng |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/3228 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2005年度(H17) (Jun.2005 - Mar.2006)
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記述 |
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