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http://hdl.handle.net/10119/7369
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タイトル: | ナノテクノロジー関連特許出願のマッピング、引用関係を用いた技術群の同定と知識の流れの計測(メトリクス,一般講演,第22回年次学術大会) |
著者: | 伊神, 正貫 |
発行日: | 2007-10-27 |
出版者: | 研究・技術計画学会 |
誌名: | 年次学術大会講演要旨集 |
巻: | 22 |
開始ページ: | 688 |
終了ページ: | 691 |
Rights: | 本著作物は研究・技術計画学会の許可のもとに掲載するものです。This material is posted here with permission of the Japan Society for Science Policy and Research Management. |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/7369 |
資料タイプ: | publisher |
出現コレクション: | 2007年 <第22回>
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