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M-MS. 2009年度(H21) >
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http://hdl.handle.net/10119/8984
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タイトル: | トップコンタクト型C60薄膜電界効果トランジスタにおけるデバイスの抵抗成分の評価 |
著者: | 末清, 雅人 |
著者(別表記): | すえきよ, まさと |
キーワード: | 有機薄膜電界効果トランジスタ organic thin-film field-effect transistor C60 C60 デバイス抵抗 debice resistance チャンネル膜厚 channel thickness |
発行日: | Mar-2010 |
記述: | Supervisor:藤原 明比古 准教授 マテリアルサイエンス研究科 修士 |
タイトル(英語): | Characterization of device resistance element in top-contact-type C60 thin-film field-effect transistor |
著者(英語): | Suekiyo, Masato |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/8984 |
出現コレクション: | M-MS. 2009年度(H21) (Jun.2009 - Mar.2010)
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