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M-MS. 2010年度(H22) >
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http://hdl.handle.net/10119/9138
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| タイトル: | Carrier injection mechanism at the metal-semiconductor interface in CNT-FETs |
| 著者: | SHIH, Hong-An |
| 著者（別表記）: | しい, ほんあん |
| キーワード: | CNT-FET
thermionic emission
thermionic field emission
tunneling |
| 発行日: | Sep-2010 |
| 記述: | Assoc. Prof. Toshi-kazu SUZUKI
マテリアルサイエンス研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | Carrier injection mechanism at the metal-semiconductor interface in CNT-FETs |
| 著者（英語）: | SHIH, Hong-An |
| 言語: | eng |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/9138 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2010年度(H22) (Jun.2010 - Mar.2011)
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記述 |
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