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M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 2010年度(H22) >
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http://hdl.handle.net/10119/9711
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| タイトル: | 原子間力顕微鏡(AFM)による固体表面－AFM tip間の付着力測定と解析 |
| 著者: | 胡木, 政登 |
| 著者（別表記）: | えびすぎ, まさと |
| キーワード: | 付着力、ハマカー定数、表面自由エネルギー、ファンデルワールス力
Adhesion force, Hamaker Constant, van der Waals force |
| 発行日: | Mar-2011 |
| 記述: | Supervisor:下田 達也
マテリアルサイエンス研究科
修士 |
| タイトル（英語）: | Measuring Adhesion Force between Solid Surfaces and AFM-Tip by Means of Atomic Force Microscopy and Analysis |
| 著者（英語）: | Ebisugi, Masato |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/9711 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2010年度(H22) (Jun.2010 - Mar.2011)
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