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M-MS. 2010年度(H22) >
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http://hdl.handle.net/10119/9711
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タイトル: | 原子間力顕微鏡(AFM)による固体表面-AFM tip間の付着力測定と解析 |
著者: | 胡木, 政登 |
著者(別表記): | えびすぎ, まさと |
キーワード: | 付着力、ハマカー定数、表面自由エネルギー、ファンデルワールス力 Adhesion force, Hamaker Constant, van der Waals force |
発行日: | Mar-2011 |
記述: | Supervisor:下田 達也 マテリアルサイエンス研究科 修士 |
タイトル(英語): | Measuring Adhesion Force between Solid Surfaces and AFM-Tip by Means of Atomic Force Microscopy and Analysis |
著者(英語): | Ebisugi, Masato |
言語: | jpn |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/9711 |
出現コレクション: | M-MS. 2010年度(H22) (Jun.2010 - Mar.2011)
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