JAIST Repository >
i. 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) >
i20. 学位論文 >
M-MS. 修士(マテリアルサイエンス)・修士(材料科学) >
M-MS. 2010年度(H22) >

このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/10119/9711

タイトル: 原子間力顕微鏡(AFM)による固体表面-AFM tip間の付着力測定と解析
著者: 胡木, 政登
著者(別表記): えびすぎ, まさと
キーワード: 付着力、ハマカー定数、表面自由エネルギー、ファンデルワールス力
Adhesion force, Hamaker Constant, van der Waals force
発行日: Mar-2011
記述: Supervisor:下田 達也
マテリアルサイエンス研究科
修士
タイトル(英語): Measuring Adhesion Force between Solid Surfaces and AFM-Tip by Means of Atomic Force Microscopy and Analysis
著者(英語): Ebisugi, Masato
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/9711
出現コレクション:M-MS. 2010年度(H22) (Jun.2010 - Mar.2011)

このアイテムのファイル:

ファイル 記述 サイズ形式
abstract.pdf110KbAdobe PDF見る/開く

当システムに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。

 


お問い合わせ先 : 北陸先端科学技術大学院大学 研究推進課図書館情報係