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著者:  "Nishikawa, Naoyuki"

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発行日タイトル 著者
5-Nov-2017 Direct observation of changes in the effective minority-carrier lifetime of SiNx-passivated n-type crystalline-silicon substrates caused by potential-induced degradation and recovery testsNishikawa, Naoyuki; Yamaguchi, Seira; Ohdaira, Keisuke

 
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