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タイトル: 電界イオン/電界放射顕微鏡による走査型トンネル顕微鏡用探針の調製と評価
著者: 木村, 周一
キーワード: STM tip
FIM
FEM
Build up
STM
発行日: Mar-2014
記述: Supervisor:富取 正彦
マテリアルサイエンス研究科
修士
タイトル(英語): 電界イオン/電界放射顕微鏡による走査型トンネル顕微鏡用探針の調製と評価
著者(英語): Kimura, Shuichi
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/11952
出現コレクション:M-MS. 2013年度(H25) (Jun.2013 - Mar.2014)

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