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タイトル: 特許審査対応における経験知統合学習モデルの構築と学習支援環境の開発
その他のタイトル: An experiential learning model of integrated knowledge to respond against patent office action
著者: 池田, 満
著者(別表記): Ikeda, Mitsuru
キーワード: 特許審査対応
オントロジー
経験知の体系化
発行日: 20-Jun-2018
抄録: 本研究では、特許審査の公開情報から特許戦略知識の習得の基礎となる知識モデルを構成することを目指した。特許審査対応プロセスオントロジーは、過去の特許審査対応事例がどのような文書、知識、思考プロセス等によって構成されているかを表現した特許審査対応の統合知モデルであり、特許審査対応プロセスオントロジーを組み込んだデータベースシステムを構築することで、どのような特許審査対応策が有効であるのかを具体的に把握することができる。出願人は、膨大な特許情報の中から類似した内容の特許出願案件を自ら探し出す必要がなく、効率的な特許審査対応が実現できる。:This research aims at constructing the integrative knowledge model as an ontology which lays the foundation for the novices to acquire the strategic response skill to patent office action. The ontology is built based on the analysis of the patent application documents which is served by the public databases. The aim of the analysis it to elicit the knowledge and thinking process from the good practice of the patent application activities. The service system, such as a learning environment, can be built using the ontology. For example, the novice can easily find the appropriate document which includes good practices similar to his/her problem of patent application.
記述: 挑戦的萌芽研究
研究期間:2015~2017
課題番号:15K12409
研究者番号:80212786
研究分野:教育工学
言語: jpn
URI: http://hdl.handle.net/10119/15387
出現コレクション:平成29年度 (FY 2017)

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