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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10119/16080

Title: 強度輸送方程式を用いた位相マッピング
Authors: 大島, 義文
張, 暁賓
Keywords: 強度輸送方程式
位相マッピング
静電ポテンシャル
収差補正
Issue Date: 2017-04-30
Publisher: 日本顕微鏡学会
Magazine name: 顕微鏡
Volume: 52
Number: 1
Start page: 19
End page: 23
DOI: 10.11410/kenbikyo.52.1_19
Abstract: 近年,収差補正装置の開発により透過型電子顕微鏡の空間分解能が飛躍的に向上し,軽元素検出を実現するまでに大きな成果を得ている.今後もさらなる空間分解能の向上が期待されるが,透過型電子顕微鏡には位相情報を得るという大きな課題もある.これまで,ホログラフィーが最も有力な手段として大きな成果を得てきたが,近年,それ以外の様々な方法も提案され,活発な議論が行われている.本稿では,強度輸送方程式による位相情報の抽出について紹介し,最近の研究成果を述べることでその特徴を明らかにする.この方程式は,たった3枚の透過型電子顕微鏡像から位相像を得ることができる点に優位性があり,より簡便な位相情報の抽出方法として期待できる.
Rights: Copyright (C) 2017 日本顕微鏡学会. 大島 義文, 張 暁賓, 顕微鏡, 52(1), 2017, 19-23. http://dx.doi.org/10.11410/kenbikyo.52.1_19
URI: http://hdl.handle.net/10119/16080
Material Type: publisher
Appears in Collections:f10-1. 雑誌掲載論文 (Journal Articles)

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