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http://hdl.handle.net/10119/9905
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| タイトル: | Research for fabrication of solution-processed ferroelectric-gate thin-film trasistors and their characterization |
| 著者: | Phan, Trong Tue |
| 著者（別表記）: | ふぁん, ちょん ちぇ |
| キーワード: | ferroelectric-gate thin-film transistor
ferroelectric thin film
Kelvin proble force microscopy
solution process
indium tin oxide
lead zircornium titanate (PZT)
interface properties
memory devices |
| 発行日: | Sep-2011 |
| 記述: | Supervisor:Tatsuya Shimoda
マテリアルサイエンス研究科
博士 |
| タイトル（英語）: | Research for fabrication of solution-processed ferroelectric-gate thin-film trasistors and their characterization |
| 著者（英語）: | Phan, Trong Tue |
| 言語: | eng |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/9905 |
| 出現コレクション: | D-MS. 2011年度(H23) (Jun.2011 - Mar.2012)
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