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著者:  "Huynh, Thi Cam Tu"

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発行日タイトル 著者
19-May-2022 Carrier lifetime measurement of perovskite films by differential microwave photoconductivity decayOhdaira, Keisuke; Huynh, Thi Cam Tu; Shimazaki, Ai; Kaneko, Ryuji; Sumai, Yuka; Shahiduzzaman, Md.; Taima, Tetsuya; Wakamiya, Atsushi
27-Dec-2023 Delay of the potential-induced degradation of n-type crystalline silicon photovoltaic modules by the prior application of reverse biasWu, Deqin; Huynh, Thi Cam Tu; Ohdaira, Keisuke

 
お問合せ先 : 北陸先端科学技術大学院大学　研究推進課図書館情報係 (ir-sys[at]ml.jaist.ac.jp)