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著者:  "Iwagaki, T."

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発行日タイトル 著者
Nov-2007 Efficient path delay test generation based on stuck-at test generation using checker circuitryIwagaki, T.; Ohtake, S.; Kaneko, M.; Fujiwara, H.
Dec-2007 Generation of Power-Constrained Scan Tests and Its DifficultyIwagaki, T.; Ohtake, S.

 


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