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著者: "Iwagaki, T."

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発行日	タイトル	著者
Nov-2007	Efficient path delay test generation based on stuck-at test generation using checker circuitry	Iwagaki, T.; Ohtake, S.; Kaneko, M.; Fujiwara, H.
Dec-2007	Generation of Power-Constrained Scan Tests and Its Difficulty	Iwagaki, T.; Ohtake, S.

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