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著者: "IWAGAKI, Tsuyoshi"
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| 発行日 | タイトル |
著者 |
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| 1-Dec-2003 | 不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法 | 岩垣, 剛; 大竹, 哲史; 藤原, 秀雄; IWAGAKI, Tsuyoshi; OHTAKE, Satoshi; FUJIWARA, Hideo |
| 1-Dec-2004 | A Design Scheme for Delay Testing of Controllers Using State Transition Information | IWAGAKI, Tsuyoshi; OHTAKE, Satoshi; FUJIWARA, Hideo |
| 1-Jun-2006 | A Low Power Deterministic Test Using Scan Chain Disable Technique | YOU, Zhiqiang; IWAGAKI, Tsuyoshi; INOUE, Michiko; FUJIWARA, Hideo |
| 1-Apr-2008 | Novel Register Sharing in Datapath for Structural Robustness against Delay Variation | INOUE, Keisuke; KANEKO, Mineo; IWAGAKI, Tsuyoshi |
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